Call for Papers

Embedded Test - das Wichtigste in aller Kürze ( Kompaktseminar )

Referent: Dipl.Ing. Dieter Volland, MicroConsult GmbH
Vortragsreihe: Kompaktseminar Montag
Zeit: 02. Dezember 09:00-12:30

Zielgruppe

Entwicklung

Themenbereiche

Implementierung, Test & Qualitätssicherung

Kurzfassung

In dem Kompaktseminar wird der gesamte Testprozess für ein embedded System vorgestellt. Vom Unittest bis zum Abnahme- und Wartungstest. Das Kompaktseminar richtet sich an Entwickler und Tester.

Gliederung

In dem Kompaktseminar wird der gesamte Testprozess für ein embedded System vorgestellt. Vom Unittest bis zum Abnahme- und Wartungstest.

Testen im Software Lebenszyklus: Fehler und Fehlervermeidung, psychologische Aspekte, Softwareentwicklungsmodelle und Standards.
Testarten und ihre Anwendung in den verschiedenen Teststufen

Statische Prüfungsmethoden: Für Dokumente und Programmcode, manuell und werkzeuggestützt, Review Arten, Walkthrough und Inspektion

Dynamische Tests: Entwicklung von Testfällen für Blackbox Verfahren, erfahrungsbasierte Testmethoden, Äquivalenzklassenbildung, Grenzwertbildung, Ursache-Wirkungs-Graph, Entscheidungstabellen-Test, zustandsbasierte Tests, anwendungsfallbasierte Tests, Metriken, Whitebox Verfahren

Testmanagement: Testplanung, Testfortschrittsüberwachung, Konfigurationsmanagement, Risiko und Testen, Fehler- und Abweichungsmanagement.

Testwerkzeuge: Type, deffektive Anwendung, potenzieller Nutzen und Risiken, Einführung von Testwerkzeugen in eine Organisation.

Nutzen und Besonderheiten

Der Teilnehmer bekommt einen Überblick über Testtechniken, den gesamten Entwicklungsprozess, Zusammenhänge und Ergänzung von Entwicklung und Test.

Über den Referenten

Seit 26 Jahren als Trainer und Coach in der Elektronikwelt tätig. Themenbereiche: VHDL, Mikrocontroller, C- und C++-Programmierung, UML-Grundlagen, Analyse und Design für embedded Systeme mit UML, Betriebssysteme, Bussysteme, Software-Test für embedded Systeme. Mitbegründer der MicroConsult GmbH